SN74LVTH18504APMG4 | |
---|---|
Modelo do Produto | SN74LVTH18504APMG4 |
Fabricante | N/A |
Descrição | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
Quantidade Disponível | 2997 pcs new original in stock. Solicitar Stock & Quotation |
Modelo ECAD | |
Folhas de dados | SN74LVTH18504APMG4.pdf |
SN74LVTH18504APMG4 Price |
Solicitar preço e tempo de entrega online or Email us: Info@ariat-tech.com |
Informações técnicas da SN74LVTH18504APMG4 | |||
---|---|---|---|
Número de peça do fabricante | SN74LVTH18504APMG4 | Categoria | Circuitos integrados (ICs) |
Fabricante | N/A | Descrição | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
Pacote / Caso | 64-LQFP (10x10) | Quantidade Disponível | 2997 pcs |
Tensão de alimentação | 2.7 V ~ 3.6 V | Embalagem do dispositivo fornecedor | 64-LQFP (10x10) |
Série | 74LVTH | Embalagem | Tray |
Caixa / Gabinete | 64-LQFP | Temperatura de operação | -40°C ~ 85°C |
Número de bits | 20 | Tipo de montagem | Surface Mount |
Nível de sensibilidade à umidade (MSL) | 2 (1 Year) | Tempo de entrega padrão do fabricante | 6 Weeks |
Tipo de lógica | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers | Status sem chumbo / status de RoHS | Lead free / RoHS Compliant |
Descrição detalhada | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10) | Número da peça base | 74LVTH18504 |
Download | SN74LVTH18504APMG4 PDF - EN.pdf |
SN74LVTH18504APMG4
Circuito Integrado para Aplicações Lógicas Especializadas
Luminary Micro / Texas Instruments
Dispositivo de Teste de Varredura ABT de 20 Bits com Transceptores Universais de Barramento
Operação confiável de -40°C a 85°C; transceptores de baixa tensão e alta taxa de transferência
Circuito Integrado Lógico Especializado; Dispositivo de Teste de Varredura ABT de 20 Bits com Transceptores Universais de Barramento; Tensão de Alimentação de 2,7 V a 3,6 V
Embalagem 64-LQFP; Dimensões do LQFP: 10x10 mm; Embalado em Caixas
Sem Chumbo / Conforme à RoHS; Nível de Sensibilidade à Umidade (MSL): 2 (1 Ano)
Apropriado para aplicações orientadas a barramento; Proteção ESD aprimorada em nível de sistema
Parte da Família 74LVTH da Texas Instruments; Equilibra desempenho com eficiência energética
Compatível com SMD; Alinha-se com a placa padrão LQFP
Cumpre os direcionamentos da RoHS para componentes sem chumbo
Confiabilidade de longo prazo no desempenho dentro dos intervalos de temperatura especificados
Sistemas de computação avançados; Processamento de dados de alta velocidade; Equipamentos de teste automatizados; Sistemas de telecomunicações
Ações SN74LVTH18504APMG4 | Preço SN74LVTH18504APMG4 | SN74LVTH18504APMG4 Electronics | |||
Componentes SN74LVTH18504APMG4 | Inventário SN74LVTH18504APMG4 | SN74LVTH18504APMG4 Digikey | |||
Fornecedor SN74LVTH18504APMG4 | Ordem SN74LVTH18504APMG4 Online | Inquérito SN74LVTH18504APMG4 | |||
Imagem SN74LVTH18504APMG4 | Imagem SN74LVTH18504APMG4 | SN74LVTH18504APMG4 PDF | |||
Folha de dados SN74LVTH18504APMG4 | Download da folha de dados SN74LVTH18504APMG4 | Fabricante |
Peças relacionadas para SN74LVTH18504APMG4 | |||||
---|---|---|---|---|---|
Imagem | Modelo do Produto | Descrição | Fabricante | Obter uma Cotação | |
![]() |
SN74LVTH2245DW | IC TXRX NON-INVERT 3.6V 20SOIC | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH18511DGGR | IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH18502APMG4 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH182502APM | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH18504APMR | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH18502APMR | IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH18504APM | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH182504APM | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH18502APM | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH182502APMR | IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH18512DGGR | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH18514DGGR | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH18646APM | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH2245DGVR | IC TXRX NON-INVERT 3.6V 20TVSOP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH182512DGGR | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH2245DBR | IC TXRX NON-INVERT 3.6V 20SSOP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH182652APM | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH18652APM | IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH182646APM | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | N/A | ||
![]() |
SN74LVTH18646APMG4 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | N/A |
Informações
MaisO Polarfire® SOC FPGA da Microchip recebeu a certificação AEC -Q100, confirmando sua confiabilidade em condições automotivas severas, incluindo a...
O PSOCTM 4000T é o primeiro produto da Infineon a apresentar a tecnologia Capsense ™ de quinta geração da empresa e funcionalidade multissense.Ess...
Um executivo de fornecedores de automóveis revelou que o desenvolvimento de EV no mercado norte -americano parou quando as montadoras optam por prolo...
A Infineon e o EATRON estão expandindo sua colaboração do sistema de gerenciamento de baterias de IA (BMS) para eletrônicos industriais e de consu...
No Semiconductor, anunciou recentemente o lançamento de seu primeiro sensor de tempo de voo em tempo real e em tempo real (ITOF), a série de ID do h...
Novos Produtos
MaisSensor fotoelétrico da série PD30 Os sensores fotoelétricos em miniatura de Carlo Gavazzi são de...
Kit de Avaliação XC112 / XR112 para o Radar Coerente Pulsado A111Kit de avaliação XC112 e XR112 da Acconeer com cabos planos flexíveis e suporte ...
Servomotores e Motores MINAS Série A6 A família MINAS A6 da Panasonic garante uma operação está...
Placa de Condutor UV LED Placa de driver UV LED da RayVio para emissores XE e XP1 de emissores UV-C ...
SDRAM de DDR de teste industrial e estendido Os dispositivos DDR SDRAM da Insignis garantem a opera...
O email: Info@ariat-tech.comHK TEL: +00 852-30501966ADICIONAR: Rm 2703 27F Ho King Comm Center 2-16,
Fa Yuen St MongKok Kowloon, Hong Kong.