ADCLK946BCPZ-REEL7
Modelo do Produto ADCLK946BCPZ-REEL7
Fabricante N/A
Descrição IC CLK BUFFER 1:6 4.8GHZ 24LFCSP
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Modelo ECAD
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Informações técnicas da ADCLK946BCPZ-REEL7
Número de peça do fabricante ADCLK946BCPZ-REEL7 Categoria Controles industriais
Fabricante N/A Descrição IC CLK BUFFER 1:6 4.8GHZ 24LFCSP
Pacote / Caso 24-LFCSP-VQ (4x4) Quantidade Disponível 3222 pcs
Tensão - Fornecimento 2.97V ~ 3.63V Digitar Fanout Buffer (Distribution)
Embalagem do dispositivo fornecedor 24-LFCSP-VQ (4x4) Série SiGe
Rácio - Entrada: Saída 1:6 Caixa / Gabinete 24-VFQFN Exposed Pad, CSP
Pacote Tape & Reel (TR) Saída LVPECL
Temperatura de operação -40°C ~ 85°C Número de circuitos 1
Tipo de montagem Surface Mount Entrada CML, CMOS, LVDS, LVPECL
Frequência - Max 4.8 GHz Diferencial - Entrada: Saída Yes/Yes
Número do produto base ADCLK946  
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Modelo do Produto

ADCLK946BCPZ-REEL7

Introdução

Buffer de Distribuição de Relógio de Alta Velocidade

Marca e Fabricante

Analog Devices

Características

Tecnologia SiGe, Configuração de Circuito Único, Relação de Entrada para Saída de 1:6, Suporta Entrada e Saída Diferencial, Compatível com Sinais de Entrada CML, CMOS, LVDS, LVPECL

Desempenho do Produto

Frequência Máxima de 4,8 GHz, Faixa de Tensão de Alimentação de 2,97V a 3,63V, Faixa de Temperatura de Operação de -40°C a 85°C

Especificações Técnicas

Buffers e Drivers de Relógio/Timing, Ativa Distribuição de Sinal

Dimensões, Forma e Embalagem

Pacote de Montagem Superficial, 24-VFQFN com Pad Exposto, CSP, Embalado em Bobina & Reel (TR)

Qualidade e Confiabilidade

Alta Qualidade de Fabricação

Vantagens do Produto

Distribuição Eficiente de Sinal, Saídas de Baixo Skew

Competitividade do Produto

Desempenho de Alta Velocidade, Projetado para Confiança

Compatibilidade

Funciona com Vários Tipos de Entrada

Certificação e Conformidade com Normas

Atende Especificações de Padrão da Indústria

Duração e Sustentabilidade

Longa Vida Útil de Operação, Construção Durável

Áreas de Aplicação

Infraestrutura de Comunicação, Equipamentos de Rede, Centros de Dados, Sistemas de Teste e Medição

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